当前位置:标准网 国家标准

GB/T 29557-2013 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量

GB/T 29557-2013 表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量

Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurment of sputtered depth

GB/T 29557-2013

国家标准推荐性
收藏 报错

标准GB/T 29557-2013标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量
  • 标准号:GB/T 29557-2013
    中国标准分类号:G04
  • 发布日期:2013-07-19
    国际标准分类号:71.040.40
  • 实施日期:2014-03-01
    技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《表面化学分析 深度剖析 溅射深度测量》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了溅射深度剖析中测量溅射深度的准则。本标准适用于结合离子轰击剥离部分固体样品的表面化学分析技术,通常溅射深度可达几微米。

起草单位

中山大学、中国科学院大连化学物理研究所、浙江大学、

起草人

陈建、 张训生、 张卫红、 盛世善、 谢方艳、龚力、

相近标准

20233734-T-469 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 32999-2016 表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率
GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法
GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法
GB/T 32997-2016 表面化学分析 辉光放电发射光谱定量成分深度剖析的通用规程
GB/T 32495-2016 表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法
SJ/T 10457-1993 俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则
20233169-T-469 钢件表面淬火硬化层深度的测定

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

  • 标准质量:
  • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
    ③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。