SJ/T 2658.13-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数
SJ/T 2658.13-2015
行业标准-SJ 电子推荐性收藏报错
标准SJ/T 2658.13-2015标准状态
- 发布于:2015-10-10
- 实施于:2016-04-01
- 废止
内容简介
行业标准《半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。本部分规定了半导体红外发射二极管(以下简称器件)辐射功率温度系数的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
起草单位
工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草人
张戈、赵英
相近标准
SJ/T 2658.6-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率
SJ/T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻
SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
SJ/T 2658.14-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第14部分:结温
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 SJ/T 11555-2015 用电感耦合等离子体质谱法测定硝酸中金属元素的含
- 2 SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度
- 3 SJ/T 11343-2015 数字电视液晶显示器通用规范
- 4 SJ/T 11536.1-2015 高性能计算机 刀片服务器 第1部分:管理模块技术
- 5 SJ/T 11558.5-2015 LED驱动电源 第5部分:测试方法
- 6 SJ/T 11028-2015 电子器件用金铜钎料的分析方法 EDTA容量法测定铜
- 7 SJ/T 11537-2015 高性能计算机 机群监控系统技术要求
- 8 SJ/T 11539-2015 接触式图像传感器通用规范
- 9 SJ/T 11407.3.1-2015 数字接口内容保护系统技术规范 第3-1部分:DTV
- 10 SJ/T 2658.7-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
- 11 SJ/T 11563-2015 网络化可信软件生产过程与环境
- 12 SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻