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SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法

SJ/T 2749-2016 半导体激光二极管测试方法

SJ/T 2749-2016

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  • 标准名称：半导体激光二极管测试方法
  • 标准号：SJ/T 2749-2016
    中国标准分类号：L53
  • 发布日期：2016-01-15
    国际标准分类号：31.080
  • 实施日期：2016-06-01
    技术归口：工业和信息化部电子工业标准化研究院
  • 代替标准：代替SJ/T 2749-1987
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：电子学半导体分立器件SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体激光二极管测试方法》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了半导体激光二极管的光学、电学和热学参数的测试方法。本标准适用于带或不带尾纤的半导体激光二极管(以下简称“激光二极管”)。

起草单位

中国科学院半导体研究所

起草人

王欣、谢亮、满江伟

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