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SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法

SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法

SJ/T 11631-2016

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标准SJ/T 11631-2016标准状态

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  • 标准名称：太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
  • 标准号：SJ/T 11631-2016
    中国标准分类号：H21
  • 发布日期：2016-04-05
    国际标准分类号：77.040
  • 实施日期：2016-09-01
    技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：冶金金属材料试验SJ 电子

内容简介

行业标准《太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)外观缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片的沾污、崩边和缺口等外观缺陷的测试。对于其他类型硅片或外观缺陷在使用本标准规定的测试方法时，需经有关各方协商。

起草单位

中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司

起草人

陈佳洵、贺东江、黄黎

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