SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法
标准SJ/T 11766-2020标准状态
- 发布于：2020-12-09
- 实施于：2021-04-01
- 废止
内容简介
行业标准《光电耦合器件低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了光电耦合器件(以下简称光耦)1Hz~300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
起草单位
起草人
余永涛、胡为、张伟
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