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SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法

SJ/T 11766-2020

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标准SJ/T 11766-2020标准状态

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  • 标准名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
  • 标准号：SJ/T 11766-2020
    中国标准分类号：L50
  • 发布日期：2020-12-09
    国际标准分类号：31.080
  • 实施日期：2021-04-01
    技术归口：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合SJ 电子

内容简介

行业标准《光电耦合器件低频噪声参数测试方法》由基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了光电耦合器件(以下简称光耦)1Hz~300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。

起草单位

起草人

余永涛、胡为、张伟

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