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SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

SJ/T 11820-2022

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  • 标准名称：半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法
  • 标准号：SJ/T 11820-2022
    中国标准分类号：L85
  • 发布日期：2022-10-20
    国际标准分类号：17.22
  • 实施日期：2023-01-01
    技术归口：中国电子技术标准化研究院
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：计量学和测量、物理现象SJ 电子

内容简介

行业标准《半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法》由全国电子测量仪器标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了半导体分立器件直流参数测试设备(以下简称“分立器件测试设备”)的术语和定义、技术要求、测量方法。本标准适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过0.01V~5000V，直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA~10A，脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过10A~1200A的分立器件测试设备。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司

起草人

刘冲、李洁、张珊

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