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QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法

QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法

QJ 10004-2008

行业标准-QJ 航天强制性
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标准QJ 10004-2008标准状态

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标准详情

  • 标准名称:宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法
  • 标准号:QJ 10004-2008
    中国标准分类号:L40
  • 发布日期:2008-02-16
    国际标准分类号:49.035
  • 实施日期:2008-06-01
    技术归口:
  • 代替标准:
    主管部门:
  • 标准分类:航空器和航天器工程QJ 航天

内容简介

本标准规定了采用钴60γ射线对宇航用半导体器件(以下简称器件)进行电离总剂量辐照试验的一般要求和试验程序、方法。本标准适用于宇航用半导体器件辐照评估试验和验证试验。

起草单位

中国航天科技集团公司第五研究院物资部、中国航天标准化研究所

起草人

于庆奎、唐民、朱恒静、孟猛、管长才、蔡娜、周倜、王敬贤

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