QJ 10004-2008 宇航用半导体器件总剂量辐射试验方法
QJ 10004-2008
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标准QJ 10004-2008标准状态
- 发布于:2008-02-16
- 实施于:2008-06-01
- 废止
内容简介
本标准规定了采用钴60γ射线对宇航用半导体器件(以下简称器件)进行电离总剂量辐照试验的一般要求和试验程序、方法。本标准适用于宇航用半导体器件辐照评估试验和验证试验。
起草单位
中国航天科技集团公司第五研究院物资部、中国航天标准化研究所
起草人
于庆奎、唐民、朱恒静、孟猛、管长才、蔡娜、周倜、王敬贤
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