SJ 21147.3-2016 军用集成电路电磁发射测量方法第3部分：辐射发射测量-表面扫描法_标准下载

SJ 21147.3-2016 军用集成电路电磁发射测量方法第3部分：辐射发射测量-表面扫描法

行业标准-SJ 电子强制性

本部分规定了集成电路(IC)表面或附近的近场电场、磁场或电磁场分量的测量方法。本测量方法适用于测量扫描探头能够靠近的、安装在任何电路板上的IC，可用于IC的结构分析，如平面规划和电源分布的优化。

工业和信息化部电子第四研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国科学院自动化研究所

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