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SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法

SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法

SJ 21343-2018

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 21343-2018标准状态

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标准详情

  • 标准名称：微波元器件低温环境下S参数测试方法
  • 标准号：SJ 21343-2018
    中国标准分类号：
  • 发布日期：2018-01-18
    国际标准分类号：31.020
  • 实施日期：2018-05-01
    技术归口：工业和信息化部电子第四研究院
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

本标准规定了微波元器件低温环境下S参数的测试方法。本标准适用于微波元器件(包括放大器芯片、场效应晶体管、片式电容、片式电感、片式电阻)低温环境下的S参数测试。

起草单位

中国电子科技集团公司第十六研究所

起草人

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