当前位置:标准网 行业标准

SJ/T 10552-2021 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法

SJ/T 10552-2021 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法

SJ/T 10552-2021

行业标准-SJ 电子推荐性
收藏报错

标准SJ/T 10552-2021标准状态

  1. 发布于:
  2. 实施于:
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称:电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
  • 标准号:SJ/T 10552-2021
    中国标准分类号:L90
  • 发布日期:2021-03-05
    国际标准分类号:31.03
  • 实施日期:2021-06-01
    技术归口:全国半导体设备与材料标准化技术委员会
  • 代替标准:代替SJ/T 10552—1994
    主管部门:工业和信息化部
  • 标准分类:电子学SJ 电子

内容简介

行业标准《电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法》,主管部门为工业和信息化部。标准规定了电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法。本标准适用于电子陶瓷用二氧化钛中铁、硅、磷、钙、镁、铝和锑的氧化物杂质的测定。

起草单位

中国电子技术标准化研究院

起草人

张旭、张理、裴会川

相近标准

SJ/T 10552-1994 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10551-2021 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10553-2021 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10553-1994 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10551-1994 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法
SJ/T 10626-1995 键合金丝中微量杂质的ICP发射光谱分析方法
SJ/T 10633-2022 电子陶瓷原材料氧化铝中杂质的原子吸收分光光度测定法
SJ/T 10633-1995 电子陶瓷原材料氧化铝中杂质的原子吸收分光光度测定法
YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

×

搜索帮助

本站标准收录规则:

GB[/T] 空格 00000.00-1111 空格 标准名称

GB表示标准属性,国家标准;0000.00代表标准顺序号;1111代表标准发布或修订年份。
搜索关键词中避免使用GB、GBT且要注意冒号、空格等位置。如果你对本站收录规则和所找的标准不是非常明确的话,建议参照以下示例进行搜索。

搜索建议:

以标准GB/T 40028.2-2021 智慧城市 智慧医疗 第2部分:移动健康 为例,搜索建议如下:

① 搜索关键词:40028.2

② 搜索关键词:40028.2-2021

③ 搜索关键词:移动健康