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SJ 20756-1999 半导体分立器件结构相似性应用指南

SJ 20756-1999 半导体分立器件结构相似性应用指南

SJ 20756-1999

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 20756-1999标准状态

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  • 标准名称：半导体分立器件结构相似性应用指南
  • 标准号：SJ 20756-1999
    中国标准分类号：L40
  • 发布日期：1999-11-10
    国际标准分类号：31.080
  • 实施日期：1999-12-01
    技术归口：中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准：
    主管部门：信息产业部
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

本指南为GJB33A-97《半导体分立器件总规范》中结构相似性的应用提供指导。本指南适用于结构相似的军用半导体分立器件（以下简称器件）的鉴定（含鉴定扩展）和质量一致性检验。本指南为GJB33A-1997《半导体分立器件总规范》中结构相似性的应用提供指导。本指南适用于结构相似的军用半导体分立器件的鉴定(含鉴定扩展)和质量-致性检验。

起草单位

中国电子技术标准化研究所、电子工业部第五十五研究所、航天工业总公司第五一一研究所、电子部第五研究所、电子工业部第十三研究所、国营第八七三厂

起草人

蔡仁明、金毓铨、杨子江、余振醒、章海良、顾振球、黄玉英

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