当前位置：标准网 行业标准

SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法

SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法

SJ 2214.7-1982

行业标准-SJ 电子强制性
收藏报错

标准SJ 2214.7-1982标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
  • 标准号：SJ 2214.7-1982
    中国标准分类号：L50
  • 发布日期：1982-11-30
    国际标准分类号：31.260
  • 实施日期：1983-07-01
    技术归口：
  • 代替标准：被SJ/T 2214-2015代替
    主管部门：
  • 标准分类：广播电子学技术管理通信SJ 电子广播综合

内容简介

起草单位

起草人

相近标准

SJ2214.9-1982半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ2215.1-1982半导体光耦合器测试方法总则
SJ2215.10-1982半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法
SJ2215.11-1982半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
SJ2215.12-1982半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
SJ2215.13-1982半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
SJ2215.14-1982半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
SJ2215.2-1982半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法
SJ2215.3-1982半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法
SJ2215.4-1982半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载
  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」