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SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法.光通量的测试方法

SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法.光通量的测试方法

SJ 2355.6-1983

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 2355.6-1983标准状态

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  • 标准名称：半导体发光器件测试方法.光通量的测试方法
  • 标准号：SJ 2355.6-1983
    中国标准分类号：L50
  • 发布日期：1983-08-15
    国际标准分类号：31.260
  • 实施日期：1984-07-01
    技术归口：
  • 代替标准：被SJ/T 11394-2009代替
    主管部门：
  • 标准分类：电子学技术管理能源核技术核技术综合SJ 电子

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起草人

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