标准详情
- 标准名称:电子材料功函数的测试方法
- 标准号:SJ 3195-1989
- 中国标准分类号:L90
- 发布日期:1989-02-10
- 国际标准分类号:31-030
- 实施日期:1989-03-01
- 技术归口:
- 代替标准:
- 主管部门:
- 标准分类:电子学技术管理综合标准化管理与一般规定SJ 电子
1.1本标准规定了用扫描低能电子探针法测定电子材料的功函数。1.2本标准适用于固态金属、合金以及电子发射材料。
SJ3197-1989铍青铜弹性件的热处理
SJ3198-1989真空硅铝合金中硅、铁、镁、铜的发射光谱分析方法
SJ3199-1989真空硅铝合金中锌、铅的测定方法原子吸收分光光度法
SJ3203-1989软钎焊剂的分类
SJ3204-1989软钎焊剂的名词术语
SJ3205-1989电子材料蒸发率的测定方法
SJ/Z3206.1-1989发射光谱分析实验室的一般要求
SJ/Z3206.10-1989发射光谱定性分析方法通则
SJ/Z3206.11-1989发射光谱定量分析方法通则
SJ/Z3206.12-1989电真空材料发射光谱分析方法通则
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。