SJ 20785-2000 超辐射发光二极管组件测试方法
标准SJ 20785-2000标准状态
- 发布于：2000-10-20
- 实施于：2000-10-20
- 废止
内容简介
本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。本标准适用于超辐射发光二极管组件（以下简称“组件”）光电参数测试。本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。本标准适用于超辐射发光二极管组件光电参数测试。
起草单位
电子工业部第44研究所
起草人
魏进、易向阳、常利发、李春芳
相近标准
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