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SJ 20785-2000 超辐射发光二极管组件测试方法

SJ 20785-2000 超辐射发光二极管组件测试方法

SJ 20785-2000

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 20785-2000标准状态

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标准详情

  • 标准名称：超辐射发光二极管组件测试方法
  • 标准号：SJ 20785-2000
    中国标准分类号：L50
  • 发布日期：2000-10-20
    国际标准分类号：31.260
  • 实施日期：2000-10-20
    技术归口：中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准：
    主管部门：信息产业部
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。本标准适用于超辐射发光二极管组件（以下简称“组件”）光电参数测试。本标准规定了超辐射发光二极管组件光电参数的测试方法。本标准适用于超辐射发光二极管组件光电参数测试。

起草单位

电子工业部第44研究所

起草人

魏进、易向阳、常利发、李春芳

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