SJ/T 11460.6.1-2015 液晶显示用背光组件 第6-1部分: 测试方法 光学与光电参数
SJ/T 11460.6.1-2015
行业标准-SJ 电子推荐性标准SJ/T 11460.6.1-2015标准状态
- 发布于:2015-04-30
- 实施于:2015-10-01
- 废止
内容简介
行业标准《液晶显示用背光组件 第6-1部分: 测试方法 光学与光电参数》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报,主管部门为工业和信息化部。本部分规定了液晶显示用背光组件(以下简称背光组件)的光学和光电性能的测试方法。本部分适用于各类液晶显示用背光组件,包括半导体发光二极管(LED)、冷阴极荧光灯(CCFL)、电致发光(EL)等背光组件。
起草单位
杭州浙大三色仪器有限公司、TCL集团工业研究院、京东方科技集团股份有限公司
起草人
王建平、李俊凯、牟同升
相近标准
SJ/T 11460.6.2-2015 液晶显示用背光组件 第6-2部分: 测试方法 动态光学与光电参数
SJ/T 11460.2-2014 液晶显示用背光组件 第2部分:CCFL背光组件空白详细规范
SJ/T 11460.4-2018 液晶显示用背光组件 第4部分:量子点背光组件空白详细规范
GB/T 18910.61-2021 液晶显示器件 第6-1部分:液晶显示器件测试方法 光电参数
20203929-T-339 有机发光二极管显示器件 第6-1部分:光学和光电参数测试方法
SJ/T 11460.3.1-2014 液晶显示用背光组件 第3-1部分:便携式显示用LED背光组件空白详细规范
SJ/T 11460.3.3-2016 液晶显示用背光组件 第3-3部分:电视接收机用LED背光组件空白详细规范
SJ/T 11460.3.2-2013 液晶显示用背光组件 第3-2部分:显示器用LED背光组件空白详细规范
SJ/T 11460.1-2013 液晶显示用背光组件 第1部分:总规范
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 SJ/T 11493-2015 硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
- 2 SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
- 3 SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
- 4 SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
- 5 SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
- 6 SJ/T 11496-2015 红外吸收法测量砷化镓中硼含量
- 7 SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南
- 8 SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范
- 9 SJ/T 11501-2015 碳化硅单晶晶型的测试方法
- 10 SJ/T 11500-2015 碳化硅单晶晶向的测试方法
- 11 SJ/T 11533-2015 24针点阵式打印头通用规范
- 12 SJ/T 11483-2014 锂离子电池用电解铜箔