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GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits

GB/T 4589.1-2006

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标准GB/T 4589.1-2006标准状态

发布于：2006-10-10
实施于：2007-02-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范
标准号：GB/T 4589.1-2006
中国标准分类号：L40
发布日期：2006-10-10
国际标准分类号：31.080.01
实施日期：2007-02-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：代替GB/T 4589.1-1989
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件半导体分立器件综合

内容简介

国家标准《半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。

起草单位

中国电子技术标准化研究所、

起草人

罗发明、陈裕昆、金毓铨、

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