GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法_标准下载

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GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法

Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices

GB/T 4937-1995

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标准GB/T 4937-1995标准状态

发布于：1995-12-22
实施于：1996-08-01
废止

标准详情

标准名称：半导体器件机械和气候试验方法
标准号：GB/T 4937-1995
中国标准分类号：L40
发布日期：1995-12-22
国际标准分类号：31.080
实施日期：1996-08-01
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
代替标准：被GB/T 4937.1-2006部分代替
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学半导体分立器件

内容简介

国家标准《半导体器件机械和气候试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。注:非空腔器件是指器件结构中封装材料与管芯的所有暴睬表面紧密接触且没有任何空间的器件。本标准已尽可能考虑了IEC 68《基本环境试验规程》。

起草单位

上海市电子仪表计量测试所、

起草人

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