GB/T 15651.6-2023 半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管
GB/T 15651.6-2023
国家标准推荐性标准GB/T 15651.6-2023标准状态
- 发布于:2023-09-07
- 实施于:2024-04-01
- 废止
内容简介
国家标准《半导体器件 第5-6部分:光电子器件 发光二极管》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件规定了一般工业应川的发光二极管(LED)的术语、基本额定值和特性、测试方法和质最评定,涉及信号器、控制器、传感器等。本文件不包括照明用LED。LED分为以下五种类型:a)LED器件;b)LED平面发光器件;c)LED数字显示和字母-数字显示;d)显示用点阵LED;e)红外发射二极管(IRLED);f)紫外发射二极管(UVLED)。本文件包括带有散热器或具有同等散热器功能的LED。本文件不包括整体LED和控制装置、集成LED模块、半集成LED模块、集成LED灯或半集成LED灯。
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子技术标准化研究院、晶能光电(江西)有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、福建鸿博光电科技有限公司、北京集创北方科技股份有限公司、国家半导体器件质量检验检测中心、深圳市标准技术研究院、山东浪潮华光光电子股份有限公司、华南理工大学、广州赛西标准检测研究院有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、
起草人
刘东月、 黄杰、 赵涛、 胡轶、 李宗涛、 陈庆美、 茹志芹、 赵莉红、 赵鹏、 赵敏、刘秀娟、王成新、吕天刚、吴杜雄、樊磊、刘芳、李长普、
相近标准
20231206-T-339 半导体器件 第5-8部分:光电子器件 发光二极管 光电效率测试方法
20231205-T-339 半导体器件 第5-11部分:光电子器件 发光二极管 辐射和非辐射电流的测试方法
20162480-T-339 半导体器件 第5-5部分:光电子器件 光电耦合器
20231209-T-339 半导体器件 第5-10部分:光电子器件 发光二极管 基于室温参考的内部量子效率的测试方法
20233683-T-339 半导体器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
20231207-T-339 半导体器件 第5-9部分: 光电子器件 发光二极管 基于温度相关的电致发光内量子效率测试方法
GB/T 18904.3-2002 半导体器件 第12-3部分:光电子器件 显示用发光二极管空白详细规范
20231204-T-339 半导体器件 第5-13部分:光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验
20201526-T-339 半导体器件 第5-7部分:光电子器件 光电二极管和光电晶体管
GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们,感谢!
③ 本站资源均来源于互联网,仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。
下载说明
「相关推荐」
- 1 GB/T 39560.12-2024 电子电气产品中某些物质的测定 第12部分:气相色
- 2 GB 44703-2024 光辐射安全通用要求
- 3 GB/T 14078-2024 氦氖激光器技术规范
- 4 GB/T 31274-2024 电子电气产品限用物质管理体系 要求
- 5 GB/T 44390-2024 打印显示 薄膜均匀性测试方法
- 6 GB/T 44375-2024 300mm半导体设备装载端口要求
- 7 GB/T 44293-2024 显微物镜数值孔径图像式测量方法
- 8 GB/T 27665-2024 掺钕钇铝石榴石激光棒激光性能测量方法
- 9 GB/T 43931-2024 宇航用微波集成电路芯片通用规范
- 10 GB/T 44077.41-2024 透明显示器件 第41部分:测试方法 光学性能
- 11 GB/T 18910.63-2024 液晶显示器件 第6-3部分:液晶显示模块测试方法
- 12 GB/T 43864.12-2024 显示光源组件 第1-2部分:术语和文字符号