GB/T 44390-2024 打印显示 薄膜均匀性测试方法
GB/T 44390-2024
国家标准推荐性标准GB/T 44390-2024标准状态
- 发布于:2024-08-23
- 实施于:2025-03-01
- 废止
内容简介
国家标准《打印显示 薄膜均匀性测试方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准委。
本文件描述了打印显示薄膜均匀性的测试方法,主要包括子像素均匀性、相邻子像素均匀性、短程均匀性测试方法。本文件适用于使用探针式表面轮廓仪(以下称台阶仪)和白光干涉仪对厚度范围为5nm~105nm的打印显示薄膜均匀性的测试。
起草单位
京东方科技集团股份有限公司、北京鼎材科技有限公司、合肥京东方卓印科技有限公司、TCL华星光电技术有限公司、广东东溢新材料科技有限公司、深圳御光新材料有限公司、绍兴旭源新材料科技有限公司、奥来德(上海)光电材料科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、合肥鼎材科技有限公司、江阴润玛电子材料股份有限公司、广东聚华印刷显示技术有限公司、衢州英特高分子材料有限公司、
起草人
张志刚、 杨京龙、 马晓宇、 代青、 施槐庭、 黄瑜、 赵俊莎、 汪康、 乔娟、 高文正、 周辉、 陈建平、 黄卫东、 朱龙山、 李新国、徐晓光、毕岩、孙力、曹可慰、吴怡然、王铁、包金豹、戈烨铭、何珂、付东、余磊、袁鹏、王霞、
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