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GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则

GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则

Standard practice for determination of the specimen area contributing to the detected signal in Auger electron spectrometers and some X-ray photoelectron spectrometers

GB/T 31470-2015

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标准GB/T 31470-2015标准状态

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标准详情

  • 标准名称:俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
  • 标准号:GB/T 31470-2015
    中国标准分类号:N26
  • 发布日期:2015-05-15
    国际标准分类号:17.220.20
  • 实施日期:2016-01-01
    技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 代替标准:
    主管部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:计量学和测量、物理现象电学、磁学、电和磁的测量电和磁量值的测量

内容简介

国家标准《俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了俄歇电子能谱和部分类型的X射线光电子能谱检测信号对应样品区域的确定方法。本标准适用于俄歇电子能谱仪和具有以下条件的X射线光电子能谱:人射X光束激发的样品区域大于分析器可检测到的样品区域;光电子从样品到分析器人口的过程中经过自由空间;装配有辅助电子枪可以产生一束可变能量的电子束照射到样品上。

起草单位

信息产业专用材料质量监督检验中心、苏州晶瑞化学有限公司、中国电子技术标准化研究院、天津中环领先材料技术有限公司、

起草人

李雨辰、 何秀坤、 李翔、 刘筠、刘兵、

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