GB/T 36477-2018 半导体集成电路快闪存储器测试方法_标准下载

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GB/T 36477-2018 半导体集成电路快闪存储器测试方法

Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for flash memory

GB/T 36477-2018

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标准GB/T 36477-2018标准状态

发布于：2018-06-07
实施于：2019-01-01
废止

标准详情

标准名称：半导体集成电路快闪存储器测试方法
标准号：GB/T 36477-2018
中国标准分类号：L56
发布日期：2018-06-07
国际标准分类号：31.200
实施日期：2019-01-01
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
代替标准：
主管部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路快闪存储器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、中芯国际集成电路制造（上海）有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、复旦大学、

起草人

菅端端、陈大为、冯光涛、倪昊、田万廷、高硕、钟明琛、罗晓羽、赵子鉴、董艺、闵昊、刘刚、

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