SJ/T 2658.1-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则
SJ/T 2658.1-2015
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标准SJ/T 2658.1-2015标准状态
- 发布于：2015-10-10
- 实施于：2016-04-01
- 废止
内容简介
行业标准《半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则》由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口上报，主管部门为工业和信息化部。本部分规定了对半导体红外发射二极管(以下简称器件)进行光电参数测量的一般要求，包括测试仪表的误差范围、电源的性能要求以及测试环境条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
起草单位
工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草人
张戈、赵英
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