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SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法

SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法

SJ/T 11632-2016

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标准SJ/T 11632-2016标准状态

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标准详情

  • 标准名称：太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
  • 标准号：SJ/T 11632-2016
    中国标准分类号：H21
  • 发布日期：2016-04-05
    国际标准分类号：77.040
  • 实施日期：2016-09-01
    技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：冶金金属材料试验SJ 电子

内容简介

行业标准《太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法》由全国半导体设备和材料标准化技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)微裂纹缺陷的测试方法。本标准适用于太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试，也可适用于硅片裂纹、杂质和孔洞缺陷的测试。在采用本标准提供的测试方法测试其他类型的样品之前，需由供需双方协商。

起草单位

中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、浙江精功科技股份有限公司、峨嵋半导体材料研究所

起草人

熊伟、贺东江、卫国军

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