当前位置：标准网 行业标准

SJ 21147.2-2016 军用集成电路电磁发射测量方法第2部分:辐射发射测量一TEM小室和宽带 TEM小室法

SJ 21147.2-2016 军用集成电路电磁发射测量方法第2部分:辐射发射测量一TEM小室和宽带 TEM小室法

SJ 21147.2-2016

行业标准-SJ 电子强制性
收藏报错

标准SJ 21147.2-2016标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：军用集成电路电磁发射测量方法第2部分:辐射发射测量一TEM小室和宽带 TEM小室法
  • 标准号：SJ 21147.2-2016
    中国标准分类号：L56
  • 发布日期：2016-01-19
    国际标准分类号：29.035
  • 实施日期：2016-03-01
    技术归口：工业和信息化部电子第四研究院
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电气工程SJ 电子

内容简介

本部分规定了用TEM小室和宽带TEM小室测量来自集成电路(IC)的电磁辐射的方法。本部分适用于定量地测量IC的射频（RF）辐射发射。

起草单位

工业和信息化部电子第四研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国科学院自动化研究所

起草人

相近标准

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载
  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」