SJ 21473.2-2018 军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法
SJ 21473.2-2018
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标准SJ 21473.2-2018标准状态
- 发布于：2018-12-29
- 实施于：2019-03-01
- 废止
内容简介
本部分给出了使用TEM小室和宽带TEM小室对军用集成电路进行辐射抗扰度测量的方法，包括试验设备、试验配置、试验程序等。本部分适用频率范围为150kHz~1GHz或根据TEM小室和宽带TEM小室特性决定的频率范围。
起草单位
工业和信息化部电子第四研究院
起草人
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