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SJ 20719-1998 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法

SJ 20719-1998 碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法

SJ 20719-1998

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 20719-1998标准状态

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标准详情

  • 标准名称：碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法
  • 标准号：SJ 20719-1998
    中国标准分类号：H80
  • 发布日期：1998-03-18
    国际标准分类号：29.045
  • 实施日期：1998-05-01
    技术归口：中国电子技术标准化研究所
  • 代替标准：
    主管部门：信息产业部
  • 标准分类：电气工程SJ 电子

内容简介

本规范规定了用X-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。本规范适用于X值在0.100~0.350mol范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。本标准规定了用X-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。本标准适用于X值在0.100～0.350mo1范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。

起草单位

中国电子技术标准化研究所

起草人

李兆瑞、刘筠

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