当前位置：标准网 行业标准

SJ 3196-1989 电子材料次级电子发射系数的测试方法

SJ 3196-1989 电子材料次级电子发射系数的测试方法

SJ 3196-1989

行业标准-SJ 电子强制性
收藏报错

标准SJ 3196-1989标准状态

  1. 发布于：
  2. 实施于：
  3. 废止

标准详情

  • 标准名称：电子材料次级电子发射系数的测试方法
  • 标准号：SJ 3196-1989
    中国标准分类号：L90
  • 发布日期：1989-02-10
    国际标准分类号：31-030
  • 实施日期：1989-03-01
    技术归口：
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电子学技术管理综合标准化管理与一般规定SJ 电子

内容简介

1.1本标准规定了用电子枪法测定电子材料的次级电子发射系数。1.2本标准适用于所有固态电子材料(包括金属、非金属、半导体与绝缘体)。

起草单位

起草人

相近标准

SJ3198-1989真空硅铝合金中硅、铁、镁、铜的发射光谱分析方法
SJ3199-1989真空硅铝合金中锌、铅的测定方法原子吸收分光光度法
SJ3203-1989软钎焊剂的分类
SJ3204-1989软钎焊剂的名词术语
SJ3205-1989电子材料蒸发率的测定方法
SJ/Z3206.1-1989发射光谱分析实验室的一般要求
SJ/Z3206.10-1989发射光谱定性分析方法通则
SJ/Z3206.11-1989发射光谱定量分析方法通则
SJ/Z3206.12-1989电真空材料发射光谱分析方法通则
SJ/Z3206.13-1989半导体材料发射光谱分析方法通则

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

标准网本地下载
  • 标准质量：

    • 下载说明

  • ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
    ② 标准出现数据错误、过期或其它问题请点击下方「在线纠错」通知我们，感谢！
    ③ 本站资源均来源于互联网，仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。
  • 在线纠错
    • 标准过期 下载问题 模糊有误 其它问题

    「相关推荐」