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GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory

GB/T 35003-2018

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标准GB/T 35003-2018标准状态

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  • 标准名称：非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
  • 标准号：GB/T 35003-2018
    中国标准分类号：L56
  • 发布日期：2018-03-15
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2018-08-01
    技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部（电子）
  • 标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《非易失性存储器耐久和数据保持试验方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳市国微电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、成都华微电子科技有限公司、

起草人

罗晓羽、 董艺、 刘妙、 谢休华、 郭晓宇、高硕、

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