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SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南

SJ/T 11699-2018 IP核可测性设计指南

SJ/T 11699-2018

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标准SJ/T 11699-2018标准状态

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  • 标准名称：IP核可测性设计指南
  • 标准号：SJ/T 11699-2018
    中国标准分类号：L55
  • 发布日期：2018-02-09
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2018-04-01
    技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会(SAC/TC78/SC2)
  • 代替标准：
    主管部门：工业和信息化部
  • 标准分类：电子学SJ 电子信息传输、软件和信息技术服务业

内容简介

行业标准《IP核可测性设计指南》由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会归口上报，主管部门为工业和信息化部。本标准规定了IP核的可测试性设计约束和结构，对可测试性结构、测试包封及测试接口进行规定。本标准适用于对IP核进行可测试性设计、测试集成和IP核测试。

起草单位

哈尔滨工业大学、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部软件与集成电路促进中心、合肥工业大学

起草人

王永生、肖立伊、付方发

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