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SJ 21147.1-2016 军用集成电路电磁发射测量方法 第1部分：通用条件和定义

SJ 21147.1-2016 军用集成电路电磁发射测量方法 第1部分：通用条件和定义

SJ 21147.1-2016

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 21147.1-2016标准状态

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  • 标准名称：军用集成电路电磁发射测量方法 第1部分：通用条件和定义
  • 标准号：SJ 21147.1-2016
    中国标准分类号：L56
  • 发布日期：2016-01-19
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2016-03-01
    技术归口：工业和信息化部电子第四研究院
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

本部分规定了集成电路(IC)的传导和辐射电磁发射测量的通用信息和定义，还规定了试验条件、试验设备和配置、试验程序和试验报告等内容。附录A中给出了试验方法的对照表，以帮助选择适当的测量方法。本部分适用于对受控条件下集成电路产生的辐射发射或传导发射的电压和电流的测量，以定量地获得集成电路应用过程中可能产生的射频(RF)干扰。

起草单位

工业和信息化部电子第四研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国科学院自动化研究所

起草人

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