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SJ 21473.1-2018 军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第1部分:通用条件和定义

SJ 21473.1-2018 军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第1部分:通用条件和定义

SJ 21473.1-2018

行业标准-SJ 电子强制性
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标准SJ 21473.1-2018标准状态

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  • 标准名称：军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第1部分:通用条件和定义
  • 标准号：SJ 21473.1-2018
    中国标准分类号：
  • 发布日期：2018-12-29
    国际标准分类号：31.200
  • 实施日期：2019-03-01
    技术归口：工业和信息化部电子第四研究院
  • 代替标准：
    主管部门：
  • 标准分类：电子学SJ 电子

内容简介

本部分规定了军用集成电路(IC)传导和辐射电磁抗扰度测量的通用条件和定义，规定了试验条件、试验设备和配置、试验程序和试验报告等内容。附录A给出了试验方法对照表，以帮助使用者选择合适的测量方法。本标准适用于在规定的测试环境中在150kHz~1GHz对IC传导和辐射抗扰度进行测量。通过对注入电压和电流的测量，以及受控条件下IC相应的测量，可以获得IC在特定应用过程中对传导射频(RF)骚扰和辐射RF骚扰的抗扰度。测量的结果可用于产品的比较或其他用途。

起草单位

工业和信息化部电子第四研究院

起草人

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